Pantallas planas
Las necesidades críticas de medición de las
pantallas actuales LCD y OLED de alto rendimiento reciben
un buen servicio por parte de los instrumentos de fuente y
medición de alta precisión y baja corriente
de Keithley. La empresa incorpora estos instrumentos en sistemas
de test estándar y personalizados para investigadores
y fabricantes FPD que desean desarrollar nuevos materiales,
optimizar los procesos de producción, aumentar los
rendimientos y mejorar la confiabilidad de nuevos dispositivos
de pantalla. El desempeño de medición de todo
sistema Keithley es adaptado a una tecnología específica
de dispositivos de pantalla, tales como un LCD de matriz activa
o pasiva, TFT de polisilicio de baja temperatura o amorfos,
PLED y OLED de polímero y de moléculas pequeñas,
al igual que otras tecnologías emergentes.
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Caracterización de dispositivos
- Soluciones
- Transistores
de película fina LTPS, amorfos - mediciones I-V, C-V
- Investigación
de materiales OLED - Amplio campo dinámico, alta exactitud
de test, rápidas mediciones
- Capacitancia
de elemento para almacenaje, carga de compuerta FET, corriente
de fuga de compuerta, voltaje de ruptura TFT
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Test funcional
- Documentos
- Artículos técnicos
-
- Soluciones
- Test
IC de driver para LCD y OLED pasivo - Fuente V, medida I;
Fuente I, medida V
- TFT
de OLED de matriz activa y test de matriz de pixeles - Test
de corriente IC IDDQ de driver para LTPS
- Test
de matriz de OLED pasivo - cortocircuitos y abiertos de Fila/Columna,
resistividad ITO
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Investigación de materiales
- Documentos
- Artículos técnicos
-
- Soluciones
- Materiales
orgánicos - Corriente de fuga, voltaje de ruptura reverso,
caracterización de carga
- Semiconductores
- Mediciones de resistividad
- Semiconductores
- Test de esfuerzo para confiabilidad
- Semiconductores
de silicio - Capacitancia de compuerta (almacenaje de carga)
-
Monitoreo de proceso (TEG)
- Productos
- Documentos
- Artículos técnicos
-
- Solutions
- Aprobación
de LTPS TFT/Driver final - Transistores (Vt), diodos, capacitores,
resistores, retardo de compuerta
- Compuerta/poli
- MOSCAP GOI, ECD, Vt
- Nuevas
tecnologías - Silicio policristalino de baja temperatura
AM- LCD/OLED (TEG)
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Confiabilidad/Duración/Burn-In
- Documentos
- Artículo técnico
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- Soluciones
- AST
(del inglés accelerated Stress Testing) - Generar
poder, monitorear temperatura, medir múltiples DUTs
- Duración
- Medición de temperatura y humedad, comunicación
distribuida/remota, de larga duración
- Test
de garantía de calidad (QAT)
