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Modelo 2430 - SourceMeter
de 1kW en modo pulso con medición hasta 100V y
10A
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| Número de parte:
2430 |
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La familia de instrumentos SourceMeter de Keithley
ha sido diseñada específicamente para
aplicaciones de test que requieren procesos de generación
y medición estrechamente vinculados. Todos
los modelos SourceMeter proporcionan voltaje de
precisión y generación de corriente,
como así también capacidades de medición.
Cada instrumento SourceMeter es a la vez una fuente
de potencia DC altamente estable y un verdadero
multímetro de 5-1/2 dígitos. Entre
las características de generación
de potencia se incluyen bajo ruido, precisión
y retroalimentación. Entre las capacidades
del multímetro se encuentran alta repetibilidad
y bajo ruido. El resultado es un dispositivo de
test paramétrico DC compacto de un canal.
Durante su funcionamiento, estos instrumentos pueden
actuar como fuente de voltaje, fuente de corriente,
voltímetro, amperímetro y óhmmetro.
Los fabricantes de componentes y módulos
para las industrias de comunicaciones, semiconductores,
computadores, automóviles y de medicina encontrarán
que los instrumentos SourceMeter son elementos invaluables
para una amplia gama de aplicaciones de test de
producción y caracterización.
El SourceMeter® de pulsos de 1kW modelo 2430
ofrece los mismos rangos de fuente y medición
DC que el SourceMeter de 100W modelo 2425, más
un modo de pulsos de 1kW único que amplía
el límite de corriente superior a 10A. Este
modo hace que el modelo 2430 sea ideal para medir
el voltaje de ruptura de muchos tipos de dispositivos
de alta potencia, incluyendo varistores multicapa
(MLVs) y componentes semiconductores. Durante tests
de producción de estos dispositivos, a menudo
se mide el voltaje de ruptura bajo un pulso de alta
corriente de hasta 10A. El modelo 2430 combina voltaje
bipolar programable y generación de corriente
de hasta 10A @ 100V (pulsada) con todas las capacidades
de test de alta velocidad de la serie 2400. El modelo
2430 se puede programar para producir pulsos individuales
o trenes de pulsos de hasta 5ms de ancho y con ciclos
de trabajo variables en la mayoría de los
rangos de generación. Se pueden programar
pulsos de hasta 2.5ms de largo y 8% de ciclo de
trabajo en el rango de 1kW del instrumento. Cuando
se combina con un controlador de PC y el hardware
de switching adecuado, el modelo 2430 proporciona
una solución económica de alto rendimiento
para tests de dispositivos de alta potencia, todo
en una caja de medio rack compacta. Otras soluciones
que ofrecen capacidades compatibles, como es el
caso de dispositivos de test de semiconductores
discretos, por lo general tienen un costo cuatro
veces mayor que el modelo 2430 y requieren un espacio
de rack mucho mayor.
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- Cinco instrumentos en uno (IV Fuente, IVR Medida)
- Seis modelos: 20 - 100W DC, 1000W pulsado, 1100V
hasta 1«V, 10A hasta 10pA
- Operación modo surtidor y modo drenador (4
cuadrantes)
- Exactitud básica de medida 0.012% con un
resolución de 5½ dígitos
- Sensado remoto de medición y fuente de voltaje
de 2, 4 y 6 hilos
- 1700 lecturas/segundo a 4½ dígitos vía
GPIB
- Incluye comparador para realizar tests rápidos
de pasa/falla
- Disponible función de chequeo para detectar
contactos de cable a alta velocidad
- Puerto programable DIO para el control de automatización/manipuladorr/probador
- Estándar SCPI GPIB, RS-232 e interfaces Keithley
Trigger Link
- Software de aplicación para trazado de curva
2.0 I-V Keithley LabTracer (descargar)
Introducción a producto
Tour de producto
Demostración de producto
Videos de soporte
- Dispositivos:
- Dispositivos discretos de semiconductores
- Dispositivos pasivos
- Dispositivos de supresión de transientes
- Circuitos integrados (IC), circuitos integrados
de radiofrecuencia (RFIC), circuitos integrados monolíticos
de microondas (MMIC)
- Diodos láser, módulos de diodos
láser, diodos emisores de luz, fotodetectores
- Dispositivos de protección de circuitos:
supresores de transiente de voltaje (TVS), varistores
de oxido metal (MOV), fusibles, etc.
- Airbags
- Conectores, switches, relés
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- Tests:
- Fuga
- Bajo voltaje/resistencias
- LIV
- IDDQ
- Caracterización I-V
- Aislación y resistencia de trazado
- Coeficiente de temperatura
- Voltaje directo, disrupción en sentido
inverso, corriente de fuga
- Test paramétrico DC
- Generación de potencia DC
- HIPOT
- Resistencia dieléctrica
Investigación académica
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