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| Modelo 3706
- Sistema de switch de 6 slots con DMM de alto rendimiento |
| Número de Parte:
3706 |
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La serie 3700 ofrece switching para instrumento
escalable y test automatizado de productos y componentes
electrónicos. La serie 3700 incluye 4 versiones
del sistema de switch modelo 3706 junto con una
creciente familia de tarjetas de switch y de control
enchufables. El sistema de switch modelo 3706 con
multímetro digital de alto rendimiento (DMM)
contiene 6 slots para tarjetas enchufables en una
carcasa de 2U de alto (3.5 in/89mm) que se acomoda
fácilmente a las necesidades de aplicaciones
de media y alta densidad de canales. Cuando está
totalmente cargado, un mainframe puede soportar
hasta 576 canales multiplexer de 2 alambres para
obtener costos por canal inigualables en densidad
y economía. El multímetro de alto
rendimiento proporciona un sistema de switch y medición
altamente integrado que satisface las exigencias
de aplicaciones en un sistema de test funcional
o entrega la flexibilidad necesaria en aplicaciones
autónomas de adquisición de datos
y medición.
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- Sistema de switch de 6 slots con multímetro
de alto rendimiento
- Arquitectura multi-procesador optimizada para escaneo
de alto rendimiento y aplicaciones de switching de
patrones
- Control PC remoto a través de interfaces
Ethernet, USB y GPIB
- Hasta 576 canales multiplexer de 2 alambres en un
mainframe
- Conformidad LXI Clase B con sincronización
de tiempo IEEE 1588
- Test Script Processor (TSP) embebido ofrece
automatización, rendimiento, y flexibilidad
de sistemas no paralelos
- Conexión master/slave TSP-Link que
proporciona una fácil expansión del
sistema y una conexión simple a los instrumentos
SourceMeter® de la serie 2600
- Capaz de realizar alrededor de 14,000 lecturas por
segundo con multímetro de alto rendimiento
opcional
- Interfaz de navegador web embebido para configuración
de test, mantención y control básico
de aplicación
- Gran variedad de tarjetas de switch y control para
instrumentos
Product Intro
Product Tour
Product Demo
- Optimizado para test automatizado de productos y
componentes electrónicos
- Soporta aplicaciones tan diversas como validación
de diseño, test de stress acelerado, adquisición
de datos y tests funcionales
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