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Modelo 2750 - Sistema DMM, adquisidor de datos, switching,
datalogger con 5 ranuras
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| Número de parte:
2750 |
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Los sistemas de la serie Integra (2700, 2701, 2750)
combinan medición de precisión, switching
y control en un solo instrumento altamente integrado,
que se puede utilizar ya sea en aplicaciones en
rack o de banco. Estas plataformas de costo conveniente
y alto rendimiento ofrecen alternativas costeables
a DMMs y sistemas de switch, dataloggers/registradores,
equipos de adquisición de datos y sistemas
VXI/PXI separados. Los módulos de switching
y control de la serie Integra entregan flexibilidad
y eficiencia de test inigualables para una amplia
gama de industrias y aplicaciones. Los fabricantes
de sistemas pueden crear soluciones de test con
una combinación de densidad de canales, costo
por canal y rendimiento del sistema que ningún
otro sistema de medición de una caja puede
entregar. Los módulos de entrada proporcionan
la flexibilidad para cambiar la cantidad de canales
de 20 a 200 (2 polos), aplican un estímulo
al dispositivo bajo test, enrutan las señales,
controlan los componentes del sistema y realizan
mediciones de precisión con hasta 14 funciones.
Se pueden utilizar robustas capacidades de I/O digital
para triggering, sincronización con otros
equipos de automatización y salidas de límite
de alarma. Frecuencias de escaneo de hasta 500 canales/segundo
(hasta 3500 lecturas/segundo en un solo canal) aumentan
la productividad de test.
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- Combina funciones de un DMM, sistema de switch y
datalogger
- Resolución de 6-1/2 dígitos (22 bits)
- Escoja entre 12 módulos de switch/control
- Hasta 200 canales de entrada diferencial (con aislación
de 300V) para medición y control
- Entradas convenienes de panel frontal
- Drivers LabVIEW™, LabWindows/CVI, Visual Basic,
C/C++ y TestPoint
- Capacidades de comunicaciones GPIB y RS-232
- Software datalogger Free ExceLINX™-1A
Tour de producto
Demostración de producto
- Las funciones de medición incorporadas incluyen.
- • DCV • ACV • DCI • ACI
- Resistencia (2 o 4 hilos, compensación de
offset seleccionable)
- Resistencia en circuito seco (fijación de
voltaje a 20mV) sólo en modelo 2750
- Temperatura (con termocuplas, RTD o termistores)
- Frecuencia/Periodo
- Continuidad
Investigación académica
que cita este producto:
| Total de resultados
de búsqueda: 3 |
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| Título: |
High throughput testing platform for organic Solar Cells |
| Publicación: |
Progress in Photovoltaics: Research
and Applications |
| Autores: |
1.2 Moritz K. Riede, Markus Glatthaar,
Michael Niggemann 1 Birger Zimmermann, Kristian
O. Sylvester-Hvid, Andreas W. Liehr 2 Gerhard Willeke,
Andreas Gombert, Nicholas Keegan, Tobias Ziegler
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