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| Modelo 3706
- Sistema de switch de 6 slots con DMM de alto rendimiento |
| Número de Parte:
3706 |
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The Series 3700 offers scalable, instrument grade switching and multi-channel measurement solutions that are optimized for automated testing of electronic products and components. The Series 3700 includes four versions of the Model 3706 system switch mainframe along with a growing family of plug-in switch and control cards. The Model 3706 system switch with high performance digital multimeter (DMM) contains six slots for plug-in cards in a compact 2U high (3.5 inches/89mm) enclosure that easily accommodates the needs of medium to high channel count applications. When fully loaded, a mainframe can support up to 576 two-wire multiplexer channels for unrivaled density and economical per channel costs. The high performance multimeter provides a tightly integrated switch and measurement system that meets the demanding application requirements in a functional test system or provides the flexibility needed in stand-alone data acquisition and measurement applications.
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- Sistema de switch de 6 slots con multímetro
de alto rendimiento integrado
- Arquitectura multi-procesador optimizada para escaneo
de alto rendimiento y aplicaciones de switching de
patrones
- Control PC remoto a través de interfaces
Ethernet, USB y GPIB
- Hasta 576 canales multiplexer de 2 alambres en un
mainframe
- Conformidad LXI Clase B con sincronización
de tiempo IEEE 1588
- Test Script Processor (TSP) embebido ofrece
automatización, rendimiento, y flexibilidad
de sistemas no paralelos
- Conexión master/slave TSP-Link que
proporciona una fácil expansión del
sistema y una conexión simple a los instrumentos
SourceMeter® de la serie 2600
- Capaz de realizar alrededor de 14,000 lecturas por
segundo con multímetro de alto rendimiento
opcional
- Interfaz de navegador web embebido para configuración
de test, mantención y control básico
de aplicación
- Gran variedad de tarjetas de switch y control para
instrumentos
Product Intro
Product Tour
Product Demo
- Optimizado para test automatizado de productos y
componentes electrónicos
- Soporta aplicaciones tan diversas como validación
de diseño, test de stress acelerado, adquisición
de datos y tests funcionales
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