|
|
Modelo 2502 - Medidor de fotodiodo
para alineamiento de fibra
|
| Número de parte:
2502 |
|
|
|
El medidor de fotodiodos modelo 2502 está
diseñado para aumentar el rendimiento del
sistema de tests LIV (light-current-voltage) de
Keithley en el test de producción de módulos
de diodos láser (LDMs). Desarrollados en
estrecha colaboración con fabricantes líderes
de LDMs para redes de telecomunicaciones con fibra
óptica, estos instrumentos de canal dual
cuentan con características que los hacen
más fáciles de sincronizar con otros
elementos del sistema, para llevar a cabo un estricto
control de mediciones de potencia óptica.
El modelo 2502 caracteriza una salida análoga
de alta velocidad, que permite utilizar el sistema
de test LIV en la etapa de alineación de
fibra del proceso de fabricación de LDM.
Con la utilización de un buffer de memoria
y una interfaz Trigger Link, exclusivos de Keithley
Instruments, el modelo 2502 puede ofrecer el rendimiento
más rápido del mercado para los tests
LIV de módulos de diodos láser. Estos
instrumentos están diseñados de manera
robusta para satisfacer las exigencias de confiabilidad
y repetibilidad de funcionamiento continuo en ambientes
de producción.
|
| keithley
web forum |
|
|
|
- Instrumento de canal dual para mediciones de potencia
óptica, mediciones de haces e investigación
de materiales y dispositivos a nanoescala
- Fuente de ±100V para requerimientos de polarización
- Mide corriente de fotodetector desde 1fA a 20 mA
- Resolución de 1fA para mediciones de corriente
- Mide potencia óptica directamente cuando
es utilizado con el modelo 2500INT Integrating Sphere
- Salida análoga de 0-10V para retroalimentación
de potencia óptica con alta resolución
- Proporciona una solución de alineación
de fibra de alta velocidad y alta precisión
- Soporta proceso de ensamblaje, test final, binning
de partes y especificaciones
- Permite una rápida alineación de la
fibra con la región emisora de luz óptima
del diodo láser
- Combina los procesos de alineación de fibra
y de caracterización de dispositivos
- Coeficientes de calibración en fotodetectores
programables por el usuario
- Memoria intermedia (buffer) de 3000 puntos en cada
canal que permite la transferencia de datos después
de término de test
- I/O digital y Trigger Link para operaciones de binning
y de test de barrido
- Interfaces IEEE-488 and RS-232
- Mediciones de haces SEM (Scanning electron microscope)
- Test de producción de:
- Módulos de diodo láser
- Chip en diodos láser sub montados
- LEDs
- Componentes ópticos pasivos
- Barras de diodos láser
- Alineación de fibra
|
|
BÚSQUEDA
DE PRODUCTOS
Para buscar productos,
escriba la(s) palabra(s) y presione Ir:
CALL NUMBER
1-800-935-5595 (US Only)
|
|