• Caracteriza completamente dispositivos optoelectrónicos
  

• Test LIV pulsado y continuo
  

• Optimiza mediciones directas de potencia óptica
  

• Control de temperatura de componentes enfriados activamente
  

• Pulsos tan cortos como 500ns para minimizar efectos termales
  

• Estricto control de temperatura de dispositivos bajo test
  

• Controla activamente componentes enfriados dentro de ±0.005°C
  

• Mediciones de ohms Peltier para proteger dispositivos TEC
  

• Opción de control de temperatura en lazo cerrado
  

• 50W de salida soporta mayores velocidades de test
  

• Resistividad sobre 10^8 ohm
  

• Corrientes de fuga y capacitancia de línea virtualmente eliminadas
  

• Switching manual o automatizado
  

• Sistema de medición multicanal
  

• Fuente programmable de alto voltaje, baja corriente
  

• Arquitectura modular
  

• Mide resistencia de 2- y 4-alambres desde 100µohm a 120Mohm
  

• Test de continuidad y resistencia de fuga hi-pot