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| Modelo
2400-LV - SourceMeter con mediciones hasta 20V y 1A, 20W
de salida |
| Número de Parte:
2400-LV |
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Vea
el Nuevo demo on-line para el instrumento
SourceMeter modelo 2400.
La familia de instrumentos SourceMeter de Keithley
ha sido diseñada específicamente para
aplicaciones de test que requieren procesos de generación
y medición estrechamente vinculados. Todos
los modelos SourceMeter proporcionan voltaje de
precisión y generación de corriente,
como así también capacidades de medición.
Cada instrumento SourceMeter es a la vez una fuente
de potencia DC altamente estable y un verdadero
multímetro de 5-1/2 dígitos. Entre
las características de generación
de potencia se incluyen bajo ruido, precisión
y retroalimentación. Entre las capacidades
del multímetro se encuentran alta repetibilidad
y bajo ruido. El resultado es un dispositivo de
test paramétrico DC compacto de un canal.
Durante su funcionamiento, estos instrumentos pueden
actuar como fuente de voltaje, fuente de corriente,
voltímetro, amperímetro y óhmmetro.
Los fabricantes de componentes y módulos
para las industrias de comunicaciones, semiconductores,
computadores, automóviles y de medicina encontrarán
que los instrumentos SourceMeter son elementos invaluables
para una amplia gama de aplicaciones de test de
producción y caracterización.
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- Su familia de productos ofrece un amplio rango dinámico:
10pA a 10A, 1µV a 1100V, 20W a 1000W
- Operación en cuatro cuadrantes
- 0.012% de exactitud básica con resolución
de 5-1/2 dígitos para mediciones precisas
- Medición de Ω en 6 alambres con fuente
de corriente programable y fijación de voltaje
- 1700 lecturas/segundo a 4-1/2 dígitos a través
de interfaz GPIB
- Incluye comparador para realizar tests rápidos
de pasa/falla
- Función de chequeo de contactos opcional
- I/O digital para binning o conexión a manipuladores
de componentes
- Interfaces GPIB, RS-232 y Trigger Link
- Drivers para TestPoint y LabVIEW®
Introducción a los Productos
Tour de Productos
Demostración de Productos
- Dispositivos:
- Dispositivos discretos de semiconductores
- Dispositivos pasivos
- Dispositivos de supresión de transientes
- Circuitos integrados (IC), circuitos integrados
de radiofrecuencia (RFIC), circuitos integrados monolíticos
de microondas (MMIC)
- Diodos láser, módulos de diodos
láser, diodos emisores de luz, fotodetectores
- Dispositivos de protección de circuitos:
supresores de transiente de voltaje (TVS), varistores
de oxido metal (MOV), fusibles, etc.
- Airbags
- Conectores, switches, relés
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- Tests:
- Fuga
- Bajo voltaje/resistencias
- LIV
- IDDQ
- Caracterización I-V
- Aislación y resistencia de trazado
- Coeficiente de temperatura
- Voltaje directo, disrupción en sentido
inverso, corriente de fuga
- Test paramétrico DC
- Generación de potencia DC
- HIPOT
- Resistencia dieléctrica
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