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Modelo 2520 - Sistema de test de diodo
láser pulsado con cabezal de test remoto
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| Número de parte:
2520 |
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El sistema de tests de diodo láser pulsado
modelo 2520 es un sistema de test integrado y sincronizado
para el test de diodos láser previo al proceso
de fabricación, cuando no se puede lograr
fácilmente un control adecuado de temperatura.
El modelo 2520 proporciona todas las capacidades
para generación y medición que usted
necesita para tests L-I-V (intensidad de luz-corriente-voltaje)
de pulsos y DC en diodos láser en un solo
instrumento de medio rack. La estrecha sincronización
de las capacidades de fuente y medida asegura una
alta exactitud en las mediciones, aun cuando se
utilicen anchos de pulso tan cortos como 500nseg.
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- Simplifica el test LIV de diodos láser antes
de encapsular o de activar el control de temperatura
- Solución integrada para test de producción
LIV de diodos láser durante el proceso, a nivel
de chip o de barra
- Se puede programar barrido para detenerse en un
límite de potencia óptica
- Combina capacidades de fuente y medida de alta exactitud
para tests DC y pulsados
- Canales sincronizados de medición basados
en DSP aseguran una gran exactitud en mediciones de
voltaje y de intensidad de luz
- Pulso programable en tiempo desde 500nseg. a 5mseg.,
con un ciclo de trabajo de hasta un 4%
- Capacidad de pulso de hasta 5A, capacidad DC de
hasta 1A
- 14 bits de exactitud en la medición en tres
canales (VF, fotodiodo frontal, fotodiodo posterior)
- Algoritmo de medición que aumenta la relación
señal-a-ruido de las mediciones de pulso
- Un barrido de hasta 1000 puntos almacenados en la
memoria del buffer, elimina el tráfico GPIB
durante el test, aumentando el rendimiento
- Operaciones de I/O digital para binning y manipulación
- Interfaces IEEE-488 y RS-232
- Test de producción de:
- Diodos láser de telecomunicaciones
- Diodos láser con cabeza de almacenamiento
óptico lectura/escritura
- VCSEL (Vertical Cavity Surface-Emitting Lasers)
- Impedancia térmica
- Respuesta de temperatura de juntura
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