System 25 - Kit sistema de test LIV para diodo láser
Número de Parte: SYSTEM25

El kit para sistema de test LIV (light-current-voltage) de Keithley está diseñado para ayudar a los fabricantes de módulos de diodos láser (LDMs) a mantener el ritmo de las demandas de producción, permitiéndoles fomentar la producción y el rendimiento. El sistema de test LIV combina todas las capacidades de medición DC necesarias para estos módulos con medición de potencia óptica y un estrecho control de temperatura sobre el dispositivo bajo test en un paquete de instrumentos integrado. El sistema de test LIV está configurado a partir de instrumentos probados de Keithley; la configuración básica se puede modificar fácilmente para agregar nuevas funciones de medición o para permitir nuevas conexiones.


  • Sistema de test LIV programable para módulos de diodos láser
  • Barrido y medición de 400 puntos en <8s
  • Fuente de corriente de muy bajo ruido (50μA) para drive de diodos láser
  • Corriente de drive de diodo láser de hasta 5A
  • Mide potencia óptica directamente
  • Resolución de 1fA para mediciones de corriente residual
  • Lazo P-I-D completamente digital para control de temperatura
  • Estabilidad de temperatura ±0.005°C, resolución de setpoint ±0.001°C
  • Trigger Link, memoria fuente y buffer de memoria para soporte de secuencias de test automáticas, lo cual reduce considerablemente el tráfico del bus GPIB para mejorar el rendimiento del test
  • Ampliable y flexible para futuras exigencias
 
BÚSQUEDA DE PRODUCTOS
para buscar productos, escriba la(s) palabra(s) y presione Ir:
  
CALL NUMBER
1-800-935-5595 (US Only)