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| System 25 - Kit
sistema de test LIV para diodo láser |
| Número de Parte:
SYSTEM25 |
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El kit para sistema de test LIV (light-current-voltage)
de Keithley está diseñado para ayudar
a los fabricantes de módulos de diodos láser
(LDMs) a mantener el ritmo de las demandas de producción,
permitiéndoles fomentar la producción
y el rendimiento. El sistema de test LIV combina
todas las capacidades de medición DC necesarias
para estos módulos con medición de
potencia óptica y un estrecho control de
temperatura sobre el dispositivo bajo test en un
paquete de instrumentos integrado. El sistema de
test LIV está configurado a partir de instrumentos
probados de Keithley; la configuración básica
se puede modificar fácilmente para agregar
nuevas funciones de medición o para permitir
nuevas conexiones.
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- Sistema de test LIV programable para módulos
de diodos láser
- Barrido y medición de 400 puntos en <8s
- Fuente de corriente de muy bajo ruido (50μA)
para drive de diodos láser
- Corriente de drive de diodo láser de hasta
5A
- Mide potencia óptica directamente
- Resolución de 1fA para mediciones de corriente
residual
- Lazo P-I-D completamente digital para control de
temperatura
- Estabilidad de temperatura ±0.005°C,
resolución de setpoint ±0.001°C
- Trigger Link, memoria fuente y buffer de memoria
para soporte de secuencias de test automáticas,
lo cual reduce considerablemente el tráfico
del bus GPIB para mejorar el rendimiento del test
- Ampliable y flexible para futuras exigencias
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