Software de caracterización

Nuestro software ACS (Suite de caracterización automatizada) proporciona soluciones para automatizar la caracterización de semiconductores en el nivel de dispositivos, obleas o cassettes. Los sistemas integrados de test ACS compensan el vacío entre las herramientas interactivas de laboratorio y las herramientas de test de producción de alta velocidad. El ACS Edición básica está optimizado para tests paramétricos de banco de dispositivos semiconductores discretos (paquete) y componentes, maximizando la productividad de técnicos e ingenieros en investigación y desarrollo. Los sistemas integrados de test ACS-WLR (Wafer Level Reliability) permiten la creación de predicciones de duración, dos a cinco veces más rápido en comparación con las soluciones de test WLR convencionales, acelerando el desarrollo de tecnología, la integración de proceso y el monitoreo de proceso para apurar su llegada al mercado.