Analizadores paramétricos

Para realizar tests paramétricos que maximizan la productividad de técnicos e ingenieros en investigación y desarrollo, ofrecemos el sistema de caracterización de semiconductores modelo 4200-SCS que combina la caracterización en dispositivos de pulsos y de corriente continua, gráficos en tiempo real, y análisis a nivel de laboratorio con gran precisión y con resolución a nivel de sub-femtoamperes en un sistema de caracterización totalmente integrado. Entre las opciones ofrecemos la unidad de capacitancia-voltaje modelo 4210-CVU, el módulo de I-V ultra rápido modelo 4225-PMU, la unidad generadora de pulsos modelo 4220-PGU y el amplificador/switch remoto modelo 4225-RPM. El software ACS edición básica de Keithley está optimizado para tests de dispositivos semiconductores discretos (paquete) y componentes.

  • Caracterización de componentes semiconductores
  • Análisis de fallas
  • Fácil adaptación a nuevas aplicaciones de tecnología
  • Biblioteca que abarca cientos de tests de dispositivos estándar
  • Soporta toda la gama de instrumentos SourceMeter de Keithley y más

  • Interfaz de usuario intuitiva en Windows
  • Solución de instrumentos
  • Generación de I-V, C-V y de pulso, y pulso I-V
  • Bibliotecas de aplicaciones para cada tecnología
 
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