Sistema de test paramétrico

Los sistemas de test paramétrico S530 de Keithley están diseñados para realizar todas las mediciones de DC y de C-V requeridas en el monitoreo de control de proceso, monitoreo de confiabilidad de proceso y caracterización de dispositivos. Están diseñados para ser utilizados en entornos de producción y de laboratorio que abarcan una amplia gama de dispositivos y tecnologías. El software ACS (Suite de caracterización automatizada) que controla estos sistemas es compatible con muchas estaciones automáticas de sonda ya sean nuevas o tradicionales.

  • Capacidad de medición de corrientes pA
  • Integridad de medición de baja fuga
  • SMUs a 20W proporcionan hasta 1A o 200V
  • Configurable hasta 8 SMUs y 60 pines
  • Configuración Kelvin hasta 24 pines
  • Adaptador opcional que extiende la guarda hasta la sonda
  • Compatible con probadores conocidos totalmente automáticos
  • Mediciones de C-V hasta 2MHz

  • Fuente hasta 1000V en 10mA
  • Perdida de alto voltaje y test de ruptura
  • Integridad de medición de baja pérdida
  • Capacidad de medición de corriente pA
  • SMUs a 20W proporcionan hasta 1A o 200V
  • Configurable hasta 7 SMUs and 32 pines
  • Configuración Kelvin hasta 24 pines
  • Adaptador opcional que extiende la guarda hasta la sonda
  • Compatible con probadores conocidos totalmente automáticos
  • Mediciones de C-V hasta 2MHz
 
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